• 1982 Diplom and der ETH-Zürich in Vermessungswesen
• 1985 M.Sc. der Ohio State University am Department of Geodetic Science
• 1985–1993 Assistent und Oberassistent am Department of Geodetic Science an der ETH-Zürich
• Okt–Dez 1992 Visiting Professor and der University of New South Wales, Australia
• März–Juni 1993 Invited Professor am Institut National Polytechnique, Grenobel, Frankreich
• seit 1994 Gründer und CEO bei Imetric

Dr. Beyer hat über 60 Publikationen im Bereich der Digitalen Fotogrammetrie und ist an mehreren Patenten beteiligt.