Abb. 1: Zinnbronzepartikel (hell) und organische Verunreinigungen (dunkel) auf äußerem Implantat-Gewindegang, REM 500 x. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 2: Gleicher Partikel, REM 2.500 x, EDX-Analyse. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 3: Großfl ächige organische Verunreinigung (schwarzer Bereich) REM 500 x. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 4: Darin eingebettete metallische Partikel (hellgrau), gleicher Bereich, REM 2.500 x, EDX-Analyse. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 5: Großflächige kohlenstoffhaltige Verunreinigung (schwarzer Bereich) REM 500 x. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 6: Verunreinigung, REM 2.500 x, EDX-Analyse. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 7: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) Gerät (Tascon, Münster). © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 8: Kunststoff aus der Implantatverpackung auf dem obersten Gewindegang eines Keramikimplantates, REM 500 x. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 9: Gleiche Verunreinigung, REM 2.500 x. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 10 und 11: Auszug aus der ToF-SIMS-Analyse von zwei äußeren Implantat-Gewindeflanken (Bereich 500 x 500 μm); Tascon, Münster. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 10 und 11: Auszug aus der ToF-SIMS-Analyse von zwei äußeren Implantat-Gewindeflanken (Bereich 500 x 500 μm); Tascon, Münster. © Dr. Dirk U. Duddeck

Abb. 12: Warnhinweise für Dodecylbenzolsulfonsäure auf handelsüblichem Fliesenreiniger. © Dr. Dirk U. Duddeck